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所有Silicon Designs MEMS數(shù)字表面貼裝加速度計(jì)均具有:
數(shù)字脈沖密度輸出
集成傳感器和放大器
+5 VDC,2 mA電源(典型值)
響應(yīng)DC和AC加速
無(wú)外部參考電壓
易于連接微處理器,兼容TTL / CMOS
良好的EMI電阻
1410型產(chǎn)生一個(gè)數(shù)字脈沖序列,其中脈沖密度(每秒的脈沖數(shù))與所施加的加速度成比例。它需要一個(gè)+ 5V單電源和一個(gè)100kHz至1MHz的TTL / CMOS電平時(shí)鐘。輸出與時(shí)鐘頻率成比例,并且與電源電壓無(wú)關(guān)。提供了兩種形式的數(shù)字信號(hào),用于直接與微處理器或計(jì)數(shù)器接口。敏感軸垂直于包裝底部,正加速度定義為推動(dòng)包裝底部的力。外部數(shù)字線路驅(qū)動(dòng)器可用于驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)電纜,或在嘈雜的環(huán)境中使用。
SDI的3340型G-Logger®是一種低成本、獨(dú)立的便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),具有與昂貴得多的系統(tǒng)中常見的強(qiáng)大監(jiān)測(cè)、FFT分析和顯示功能相同的功能。3340以非常實(shí)惠的價(jià)格為用戶提供快速、強(qiáng)大和全面的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)流,并提供快速設(shè)置。
使用按鈕和/或時(shí)間表開始和停止數(shù)據(jù)采集
收集峰值信息
在任何顯示模式下查看峰值事件和事件數(shù)據(jù)列表
添加 GPS 模塊以收集 GPS 數(shù)據(jù)
使用內(nèi)部電池電源、外部電源組或交流電源
與所有 Silicon Designs 工業(yè)加速度計(jì)兼容
通過(guò) +/-1G 翻轉(zhuǎn)進(jìn)行自動(dòng)和手動(dòng)校準(zhǔn)程序
用于實(shí)時(shí)或采集后數(shù)據(jù)分析的可調(diào)濾波器和 FFT
包含的軟件具有基于 LabView 平臺(tái)構(gòu)建的熟悉且方便的用戶界面
三個(gè) 1 軸模塊或一個(gè) 3 軸模塊的三個(gè)輸入通道
16 位采樣率,每軸 1 到 10,000 個(gè)樣本/秒
Silicon Designs 加速度計(jì)模塊接線后不到 5 分鐘即可自動(dòng)設(shè)置
3340 G-Logger® 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)是 SDI 3330 型的高版本。3340 結(jié)合了 3330 的所有強(qiáng)大功能,此外 3340 還具有:
由 USB、AA 電池或通過(guò) USB 電纜的交流電源供電
可編程用于計(jì)劃監(jiān)控
包括回放期間的事件檢測(cè)和隔離
支持可選的GPS數(shù)據(jù)采集
3340 是快速簡(jiǎn)單地評(píng)估振動(dòng)和運(yùn)動(dòng)的理想工具,專用于測(cè)試插座中的 SDI 加速度計(jì)模塊和芯片。它具有三個(gè)輸入通道,允許一個(gè)三軸模塊或最多三個(gè)單軸模塊,或與 SDI EB-L 或 EB-J 測(cè)試儀配對(duì)。它還提供加速度計(jì)所需的所有電源,因此不需要額外的電源。
隨附的軟件具有基于 LabView 平臺(tái)構(gòu)建的用戶界面。3340 采集加速度計(jì)數(shù)據(jù)并以三種不同的格式同時(shí)以圖形方式顯示,可以是實(shí)時(shí)的,也可以是來(lái)自先前采集的數(shù)據(jù)文件:
數(shù)據(jù)與時(shí)間的關(guān)系,如示波器
頻譜,顯示幅度與頻率 (FFT)
儀表,顯示電流測(cè)量值,例如 DC、RMS 和峰值
擴(kuò)展或收縮顯示窗口的時(shí)間尺度以查看詳細(xì)信息或聚合數(shù)據(jù),并根據(jù)需要暫停、快進(jìn)或倒回?cái)?shù)據(jù)。以每軸 1 到 10,000 個(gè)樣本/秒的 16 位采樣率直接記錄到計(jì)算機(jī)或 6 級(jí)或 SD 存儲(chǔ)卡。
使用 SDI 加速度計(jì)自動(dòng)或手動(dòng)配置 3340 只需不到 5 分鐘,或者 SDI 可以在購(gòu)買時(shí)預(yù)先配置您的 3340。3340 軟件自動(dòng)填充兼容 SDI 加速度計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù),或輕松輸入個(gè)別加速度計(jì)的特定數(shù)據(jù)以獲得絕對(duì)精度。3340 還可以在加速度計(jì)生命周期中的任何時(shí)間按需執(zhí)行校準(zhǔn)檢查,以使用簡(jiǎn)單的 +/-1G 翻轉(zhuǎn)來(lái)驗(yàn)證校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
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